Rastersondenmikroskope für das Ultrahochvakuum
Die DME Rastersondenmikroskope für das Ultrahochvakuum sind für dreidimensionale atomare Auflösungen konstruiert. Durch
einen sehr kleinen mechanischen Loop von ein bis zu wenigen cm Länge wird eine extrem hohe Stabilität erreicht
(
siehe dazu "zur Stabilität einer Scanplattform").
Desweiteren haben unsere UHV-Mikroskope folgende Eigenschaften:
- Gedämpft schwingende Aufhängung der Scaneinheiten zur mechanischen Isolation von der Kammer
- Mikroskope sind für leichte Handhabbarkeit an einem einzigen Flansch montiert, der alle notwendigen Versorgungsanschlüsse
besitzt
- Spitzen- und Probenwechselmechaniken werden von uns an bestehende Systemlösungen angepasst
- Systeme ausheizbar bis 150°C
Folgende Systeme stehen zur Auswahl:
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- Höchstauflösendes Rastertunnelmikroskop für das Ultrahochvakuum mit 4.5 μm x 4.5 μm x 1 μm Scanbereich
- Spitzenscanner (Probe sitzt fest)
- Verfügbar als Version für Raumtemperatur oder variable Temperatur
- Probengröße ca. 5 x 5 mm
Details...
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- Höchstauflösendes AFM/STM für das Ultrahochvakuum mit 9 μm x 9 μm x 1 μm Scanbereich
- Unterstützt die Verwendung beliebiger Standard-AFM-Cantilever mittels Laser/Detektor-Anordnung
- Groppositionierung mittels eingebautem optischem Mikroskop
- Motorisierte Probenpositionierung mittels Piezomotor
- Probenscanner (Spitze sitzt fest und Probe wird bewegt)
- Probengröße ca. 5 x 5 mm
- Laserjustage und Kontrolle des Laserpfads mittels Piezomotor-Spiegelmanipulatoren
- 4 wahlfreie elektrische Durchführungen zur Probenkontaktierung
- 3 wahlfreie elektrische Durchführungen zur Cantileverkontaktierung
- Unterstützt nahezu alle AFM-Betriebsmodi
Details...
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Alle unsere Rastersondenmikroskope benötigen unseren volldigitalen C26-Controller, sowie unsere aktuelle ScanSoftware DME ScanTool.
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