DME - AFM Systeme

Die folgenden DME AFM Systeme basieren auf dem DualScope™ DS 95 Scanner mit diesen Eigenschaften:

	Spitzenscanner Anordnung: Die Probe liegt beim Scannen fest, nur die Spitze bewegt sich. Dies erlaubt die Untersuchung beliebiger Probentypen, die Messergebnisse sind unabhängig von Probengröße und -masse. Eingebautes Mikroskopobjektiv mit Blick senkecht von oben auf die Probenoberfläche Kann in jeder Lage betrieben werden Automatische Grobannäherung mittels DME Piezomotor Annäherung unabhängig von Probenoberfläche und deren Beschaffenheit Kinderleichter Spitzenwechsel innerhalb von Sekunden Unterstützung nahezu aller AFM Betriebsmodi Details... Demovideo: Rasterkraftmikroskopie auf Graphit und einem iPhone-Display
	Unser kompaktestes System für Proben bis zu ca. 3 mm Dicke. Der Aufbau gehört zu den kompaktesten Systemen am Markt und bietet durch die kompakte Bauform ausgezeichnete Stabilität gegenüber äußeren Einflüssen. Das System eignet sich hervorragend zum Einsatz an Orten mit begrenztem Platzangebot, z.B. in einer Handschuhbox (siehe Foto...) oder im Reinraum. Details...
	Unser System mit kleiner Granitplattform bietet freien seitlichen Zugang zur Probe und erlaubt Probendicken von mehr als 5 cm bei einem maximalen Probendurchmesser von ca. 15 cm. Der freie Zugang zur Probe erlaubt die Realisation komplexer Aufbauten und Probenhalter, z.B. zur Kontaktierung der Probe für elektrische Messungen oder für zusätzlichen optischen Zugang bei SNOM Messungen. Der eingebaute Verfahrtisch bietet einen Verfahrweg von ca. 16 mm. Details...
	Unser größtes System für vollautomatische Messungen und Probengrößen bis 30 cm Durchmesser. Der standardmäßig motorisierte Probenverfahrtisch erlaubt präzises Ansteuern vordefinierter Probenstellen mit einer Genauigkeit besser als 300 nm bei einem Gesamtverfahrweg von > 15 cm. Das Portal erlaubt ebenfalls die Montage eines weiteren Messgeräts, z.B. eines hochauflösenden Mikroskops, und das Untersuchen der selben Probenstelle auf Knopfdruck mit mehreren Geräten. Details...

Alle unsere Rastersondenmikroskope benötigen unseren volldigitalen C26-Controller, sowie unsere aktuelle ScanSoftware DME ScanTool. Desweiteren existiert weiteres Zubehör, abhängig von den durchzuführenden Messungen. Ein Beispiel ist unser FPGA-basiertes Lock-In Kombinationsgerät DME DiProWa, was optimal für die Durchführung elektrischer AFM-Messung, z.B. Kelvin-Probe-Force-Microscopy (KFPM), angepasst ist. Bitte sprechen Sie uns bzgl. Ihrer kontreten Applicationen an, so dass wir Ihr System optimal auf die jeweiligen Anwendungsfelder abstimmen können.