Rastersondenmikroskope für spezielle Anwendungen
Für viele Anwendungsfälle reichen Standard-AFMs nicht aus. Dies ist einerseits der Fall, wenn Oberflächen unter speziellen Umgebungsbedingungen untersucht werden sollen, und anderersets, wenn spezielle Messverfahren realisiert werden sollen.
Zwei verschiedene Fälle von Sonderkonstruktionen
Obiges Bild zeigt zwei Beispiele für jeweils einen dieser Fälle:
- Das linke System ist eine Spezialversion eines ultrahochvakuum Rastertunnelmikroskops. Das spezielle hierbei ist, dass es sich um ein System zur Tip-Enhanced-Raman-Messung handelt, bei dem die Probenoberfläche zur optimalen optischen Detektion von einem im Vakuum justierbaren Halbspiegel umgeben ist. (Für weitere Informationen siehe hier...).
- Das rechte Instrument ist ein CAHT, ein Controlled Atmosphere High Temperature AFM, dass bei Temperaturen von bis zu 800°C messen kann.
Weitere Spezialsysteme umfassen den Anwendungsbereich SNOM (Scanning Nearfield Optical Microscopy).
Die Scanner der Serien DS 95 und DS 45 sind auch als SNOM-Versionen erhältlich. Diese arbeiten im Shear-Force-Modus
und scannen an Stelle eines Cantilevers mit einer Glasfaser. Abhängig von der Art der SNOM-Experimente
sind viele verschiedene Konfiguration des Experimentier-Setups möglich. Für SNOM-Anwendungen bitten
wir in jedem Fall um Rückfrage.
Eine weitere Kategorie spezieller Instrumente sind elektrochemische STMs (siehe Bild rechts). Diese Geräte bieten
einzelatomare Auflösung an Luft bzw. in einer Flüssigkeit und werden für oberflächenchemische Untersuchungen
leitfähiger Proben eingesetzt. Bei Interesse bitten wir ebenfalls um Rückfrage.