Kleiner Helfer der Rastersondenmikroskopie
Wer nach einer kurzen Einführung in die Rastersondenmikroskopie sucht, findet diese hier.
Das weitaus am meisten verwendete Gerät unter den Rastersondenmikroskopen (Scanning Probe Microscope - SPM) ist das Rasterkraftmikroskop (Atomic Force Microscope - AFM). Durch seine mechanische Abtastung lassen sich nahezu alle Oberflächen damit hochaufgelöst darstellen. Insofern beziehen sich die meisten hier gegebenen Informationen auf Rasterkraftmikroskopie.
Eines der wichtigsten und dennoch oft vernachlässigten Arbeiten beim Umgang mit Rasterkraftmikroskopie stellt die Oberflächenpräparation dar. Mit diesem Gerät schaut man sich mit atomarer Auflösung die Oberflächenstruktur an. Das erste, was viele Leute tun, wenn sie ein AFM in die Hand bekommen, ist, eine uralte Probe aus dem Schrank zu nehmen und sich die Oberfläche anzuschauen. Das einzige, was man dabei garantieren kann, ist, dass die im AFM sichtbar gemachten Oberflächenstrukturen aus Atomen bestehen, die nicht von der Probe kommen. Insofern kommen hier erstmal ein paar Hinweise zur
Wenn man Rasterkraftmikroskop-Aufnahmen und Raster-Elektronenmikroskop (REM)-Aufnahmen vergleicht, sehen AFM-Aufnahmen oft kontrastlos und langweilig aus. Dies liegt z.T. daran, das Oberflächen meist nicht so spektakulär aussehen wie z.B. die im REM beobachtbaren räumlichen Objekte. Ein wichtiger Punkt ist aber auch, dass in AFM-Aufnahmen der Farbwert die echte Höheninformation widerspiegelt, der Helligkeitswert einer REM aber so gewählt wird, das das Bild "gut aussieht". Deshalb wählt man naturgemäß einen höheren Kontrast und nimmt in Kauf, dass einige Stellen übersteuert, d.h. zu hell oder zu dunkel sind. In folgendem Abschnitt zeigen wir einige Beispielbilder, und was man mit einer richtigen Darstellung noch rausholen kann:
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