Anwendungen der Rastersondenmikroskopie
Es gibt verschiedene Anwendungen der Rastersondenmikroskopie, wo die präzise Abstandsregelung zwischen einer Spitze und einer Probenoberfläche ausgenutzt wird, um eine Spitze als Sensor im optischen Nahfeld einzusetzen. Die Ausnutzung des optischen Nahfelds hat gegenüber dem Fernfeld den Vorteil, dass sich hiermit laterale Auflösungen erreichen lassen, die kleiner sind als die Wellenlänge des verwendeten Lichtes. Desweiteren lassen sich auch Verstärkungseffekte beobachten, wie sie z.B. bei der spitzenverstärkten Ramanspektroskopie ausgenutzt werden.
In diesem Kontext wurde von uns in enger Zusammenarbeit mit dem Fritz-Haber-Institut in Berlin ein UHV-Raman-System konstruiert, das eine außergewöhnlich hohe numerische Apertur aufweist:Einen kleinen Ausflug in die weiteren Möglichkeiten der Rastersondenmikroskopie mit Schwerpunkt auf optischer Nahfeldmikroskopie und AFM-Lithographie zeigt der Artikel
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