DME Nanotechnologie GmbH

Lateral gewachsene Indium-Gallium-Nitrid-Struktur

Wellenlängenabhängige Photolumineszenz

Bilddaten
Bildgröße:10 x 10 μm
Temperatur:ca. 50K
Anzahl Punkte:128 x 128 in x,y; 1024 in Z (Wellenlänge)
Gesamt-Datenmenge:33,5 MB
Räumlich integriertes opt. Spektrum:

Optische Intensität

Topographie
Höhenunterschied ca. 500 nm

Indium-Gallium-Nitrid reagiert beim Wachsen sehr empfindlich auf etwaige Topographieunterschiede der Unterlage. Bei auf strukturierten Oberflächen gewachsenen Schichten lassen sich mit dem SNOM eine Vielzahl verschiedener Emissionswellenlängen beobachten.

Im räumlich integrierten optischen Emissionsspektrum erkennt man noch ein Ansteigen der Intensität zu höheren Wellenlängen. Dies ist ein Artefakt durch in den Optiken bzw. dem Strahlteiler erzeugte Lumineszenz. Da diese Störung positionsunabhängig ist, erscheint sie nicht in den optischen Bildern.

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