Produkte

Unsere Rastersondensysteme bestehen gewöhnlich aus drei Bestandteilen:

1. Scanner
2. Plattform mit XY-Tisch und Kamera
3. Controller und Software
4. Zubehör: Lock-In Verstärker (für elektrische Messungen)

In einigen Fällen sind die Scanner untrennbar mit der Plattform verbunden, die meisten Scanner können in verschiedenen Plattformen, je nach Anwendungsfall, betrieben werden. In jedem Fall wird zur Steuerung aller Rastersondenmikroskope unser Controller C-21 bzw. C-26 verwendet. Als Benutzerschnittstelle stehen zwei verschiedene Softwarevarianten (Windows und Linuxsoftware) zur Verfügung.

Einführung

Für alle, die noch nicht ganz so vertraut mit der Rastersondenmikroskopie sind, haben wir eine kleine Übersicht über die Grundprinzipien der Rastersondenmikroskopie und Hinweise zur Stabilität einer Scanplattform zusammengestellt. Danach sollte es niemandem mehr schwer fallen, sich aus den folgenden Komponenten das richtige System zusammenzustellen. (Falls Sie DME noch nicht kennen, ist vielleicht auch dieser Artikel ganz interessant.)

Ansonsten noch ein Hinweis: Alle diese System können für Sie modifiziert werden. Bitte teilen Sie uns Ihre Wünsche mit und wir machen Ihnen ein entsprechendes Angebot. Kleinere Modifikationen führen wir ohne Aufpreis und ohne Verlängerung der Lieferzeit durch; und auch bei aufwendigeren Neukonstruktionen können wir oftmals sehr kurze Lieferzeiten erreichen.

Scanner

Es folge eine Liste unserer Rastersondenmikroskopscanner. Die AFM-Scanner der DSxx Serien haben ein integriertes Mikroskopobjektiv mit Blick auf den Cantilever und die untersuchte Probenstelle. So ist es kein Problem, den interessanten Bereich auf einer Probe zu finden. Diese Scanner können entweder in ein konventionelles Mikroskop eingebaut oder mit einer unserer Scanplattformen betrieben werden. Alle Scanner sind Probescanner, d.h. der Cantilever wird zum Scannen hin- und herbewegt und ist eigentlich keine besondere Scanplattform notwendig, um die Scanner zu betreiben. Allerdings empfehlen wir immer die Verwendung einer unserer Scanplattformen, da diese eine gute Vibrationsisolation bieten und auch eine CCD-Kamera mit Monitor mitbringen. Auf Wunsch können die Scanner auch als Samplescanner, d.h. mit einem scannenden Tisch, betrieben werden, wenn z.B. andere Scanflächen oder eine besondere X-Y-Positionierung verwendet werden soll.

Alle Scanner verwenden zur Grobannäherung unsere selbstentwickelten Piezomotoren, die einen sanften Annäherungsprozess ohne starke Beanspruchungen der Probenoberfläche bieten. Die Piezomotoren haben einen durchnittlichen Hub von etwa 1,5 mm und eine Positioniergenauigkeit besser als 0,1 nm. Dadurch wird der Z-Bereich der Scanner optimal ausgenutzt, da nach der Annäherung die Probenoberfläche (genauer gesagt der Punkt der Annäherung) exakt in der Mitte des Z-Bereiches des Scanners liegt. Eine Nachjustierung zwischen den Scans erfolgt automatisch.

Die dedizierten STM-Scanner sind aus Stabilitätsgründen fest in einen Scanplattform eingebaut, dies garantiert höchste Auflösung und geringste Vibrationen.

	DS 45-40 AFM Unser kleiner AFM Scanner mit einer Scanfläche von 40 x 40 Mikrometern. Dieser Scanner ist auch als SNOM-Scanner erhältlich, der mit einer Metallspitze oder Glasfaser betrieben werden kann. Mehr Informationen
	DS 95-50/200 AFM Unser komfortabler AFM Scanner mit einer Scanfläche von 50 x 50 Mikrometern bzw. 200 x 200 Mikrometern und einem Z-Bereich von bis zu 15 Mikrometern. Die vollautomatische Cantileverjustierung, vollautomatische Annäherung und das integrierte optische Mikroskop machen routinemäßiges Scannen zum Kinderspiel. Erhältlich auch mit Zusatzoption für elektrische Messungen und STM Modus. Mehr Informationen
	EC STM Unser dedizierter Luft-STM Scanner mit eigener Scanplattform. Auch erhältlich in einer Version für elektrochemische Messungen. Der Scanner hat eine Scanfläche von 4,5 x 4,5 Mikrometern. Datenblatt
	UHV STM Unser dedizierter UHV-STM Scanner, erhältlich in vielen verschiedenen Konfigurationen und individuell anpassbar an das bestehende UHV System. Datenblatt Standardversion, Datenblatt als Version mit variabler Probentemperatur

Plattformen

Die richtige Scanplattform ist das A und O eines Rastersondenmikroskopaufbaus. Durch den Einbau eines AFMs in ein konventionelles Mikroskop spart man sich die Anschaffung einer konventionellen Scanplattform. Allerdings sind genügen die meisten Mikroskope den Stabilitätsanforderungen eines Rastersondenmikroskops nur begrenzt. Was man bei der Auswahl einer Scanplattform beachten muss, zeigt diese Kurzübersicht. Alle unsere Scanplattformen werden zusammen mit einer CCD-Kamera und Farbmonitor sowie Stromversorgung für Reflexions- und Durchlicht geliefert.

	Das "Iglu" Das Iglu ist unsere kompakteste Scanplattform. Für die manuelle Untersuchung kleiner flacher Proben ist dies die kompakteste Lösung. Datenblatt
	Das kleine Granitportal Diese Plattform erlaubt das Untersuchen auch dickerer Proben und bietet einen freien Blick auf die Probe. Datenblatt

Das große Granitportal Diese Scanplattform mit aus Granit gefertigtem 15cm Verschiebetisch und einer Positioniergenauigkeit von 100 nm ist die ideale Lösung für vollautomatische Routinemessungen und bietet AFM-gemäß höchste Stabilität. Auf Kopfdruck kann zwischen einem hochauflösenden konventionellem Mikroskop (z.B. mit DIC-Funktion) und dem AFM-Scanner gewechselt werden, was eine schnelle Übersichtskontrolle mit einer hochgenauen AFM-Messung verbindet. Die Repositionierungsprobleme beim Arbeiten mit mehreren Untersuchungsmethoden werden vollständig eliminiert. Auf Wunsch können auch andere Messgeräte integriert werden. Diese Plattform liefern wir in zwei Versionen: Mit und ohne optischem Feedback. Die Version mit optischem Feedback bringt die optimale absolute und relative Positioniergenauigkeit, die unter realen Bedinungen im Bereich von 200 nm bis 300 nm liegt. Für die mehr kostensensitive Anwendung liefern wir diese Plattform auch ohne optisches Feedback, hierbei liegt die absolute Positioniergenauigkeit üblicherweise bei ca. 5 Mikrometern, bei gleicher Stabilität und gleichem Verfahrbereich. Datenblatt

Spezialanfertigungen

Neben unseren Standardprodukten fertigen wir auch sehr gerne Sonderkonstruktionen. Und da alle Bestandteile unserer Mikroskope von uns selbst entwickelt werden, schrecken wir auch vor keiner Änderung oder Neukonstruktion zurück!

Controller

Der C26-Controller (Datenblatt) bildet das Herzstück unserer Rastersondenmikroskope. Er kontrolliert autonom alle Scanfunktionen und besitzt die notwendigen analogen Ein- und Ausgänge zur automatischen Erkennung und Steuerung unserer Scanner. Desweiteren sind alle Hochspannungsversorgungen für die Piezoscanner integriert. Der Controller wird über einen IEEE-488 Bus mit einem PC verbunden und kann sowohl von unserem Scan-Program für Windows (Datenblatt) oder von Linux aus angesteuert werden. Die windowsbasierte Version bietet alle Standardfunktionen zur interaktiven Messung und Auswertung der Messungen. Die Linuxversion bietet ein vollstädig offenes Konzept auf Basis der freien Laborsteuerungssoftware Vimms für Linux und erlaubt die Definition beliebiger vollautomatischer Messabläufe und der dazugehörigen Auswertungen. Und Zusatzfunktionen wie Lithographie oder Spektroskopie sind immer mit dabei, ganz ohne Aufpreis.

Lock-In Verstärker

Unser volldigitaler 20 MHz Lock-In Verstärker ist eine optimale Ergänzung zu unseren AFM-Systemen. Er wurde speziell auf die Anforderungen von elektrischen AFM-Messungen abgestimmt und bietet u.a. Detektion bei Vielfachen der Grundfrequenz sowie eine integrierte Feedback-Regelschleife für Kelvin-Probe-Force Messungen. Selbstverständlich kann er auch für andere Zwecke, unabhängig von unseren AFM-System eingesetzt werden.

Das Gerät lässt sich zusätzlich wie ein digitales Speicheroszilloskop verwenden. Die Steuerung erfolgt von einem PC über ein in Java implementiertes Frontend. Die Kommunikation zwischen Frontend und Verstärker läuft über Ethernet unter bietet extrem hohe Aktualisierungsraten des dargestellten Signalverlaufs. Das Frontend ist kompatibel zu allen gängigen Betriebssystemen mit Java Ausführungsumgebung.

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