SNOM-Videos
Mit einem optischen Nahfeldspektroskop lassen sich durch Verfahren der Detektionswellenlänge recht interessante Animationen erstellen. Diese Seite zeigt eine Zusammenstellung diverser Photolumineszenzmessungen an optischen Halbleitern. Alle Messungen stammen vom Institut für Angewandte Physik, Technische Universität Braunschweig. Kern des SNOM-Aufbaus ist ein DME DS45-40 Scanner.
Jede Animation wurde aus den Daten einer einzelnen Messung erstellt. Ein Klick auf das jeweilige Bild öffnet die Seite mit dem Video.
Prinzipskizze des für die Videos verwendeten optischen Nahfeldspektroskops
 | "Blinkende Quantenpunkte" |  | Lateral gewachsene Gallium-Nitrid-Struktur bei einer Temperatur von ca. 50 K |
 | Gerissene Halbleiterstruktur |  | Lateral gewachsene Indium-Gallium-Nitrid-Struktur |
 | InGaN-LED bei Raumtemperatur |  | Blauverschobene InGaN-Facetten |
 | Ungleichmäßige lateral gewachsene InGaN-Struktur |  | Einzelner InGaN-Quantenfilm auf lateral gewachsener Struktur |