Der DS 45-40 AFM Scanner
Der DS 45-40 ist ein kompakter, sehr stabiler und kostengünstiger AFM-Scanner mit feststehendem Laser und einem Scanbereich von 40 µm x 40 µm x 2,7 µm. Der Arbeitsabstand entspricht dem eines konventionellen 45 mm Mikroskopobjektivs. Der Betrieb erfolgt ausschließlich im AC-Modus, ist somit für die meisten Anwendungen ausreichend. Die Brennebene der in den Scanner integrierten Optik liegt permanent ca. 100 µm (Standby-Entfernung) unterhalb des Cantilevers. Dadurch entfällt ein Scharfstellen vor dem Scan. Wenn sich der Cantilever vor und zwischen den Scans in der Standby-Entfernung befindet, läßt sich die Probe risikolos verschieben, und man hat gleichzeitig ein optimal scharfes Bild der Probenoberfläche sowie ein noch ziemlich scharfes Bild der Cantileverspitze. Das Auffinden einer interessanten Stelle auf der Probe gelingt damit schnell und problemlos.
Der Scanner arbeitet mit standard AC-Modus (Non-Conact Modus) Cantilevern, die eine hochreflektierende Rückseite aufweisen sollten. Die Cantilever werden magnetisch gehaltert und sind deshalb sehr einfach zu wechseln. Bei nicht-Neulingen dauert ein Vorgang Scanner parken, Cantilever wechseln, Frequenz justieren und wieder annähern bis zur ersten Scanzeile etwa 5-6 Minuten.
Um den problemlosen Cantileverwechsel zu ermöglichen, liefern wir unsere Cantilever vormontiert auf einem Metallhalter. Falls spezielle Cantilever verwendet werden sollen, ist selbstverständlich auch das zur einfachen Montage der Cantilever notwendige Werkzeug bei uns erhältlich.
Weitere Informationen erhalten Sie in unserem Datenblatt.
Der Scanner ist ebenfalls in einer SNOM-Version erhältlich und arbeitet dann nach dem Shear-Force-Prinzip, bei der die Spitze parallel zur Probenoberfläche oszilliert. Anregung und Detektion der Spitzenoszillation erfolgen mit Piezo-Kristallen. Diese Version eignet sich zur Verwendung mit Glasfasern als optische Sensoren/Detektoren sowie spitzgeätzten Metalldrähten. Für weitere Informationen verwenden Sie bitte unser Kontaktformular.